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kostenlose Pressemitteilungen zu Wissenschaft und Forschung

Jan
08

Messsysteme stellen effizienteren Rohstoffeinsatz sicher

Produkte der BST ProControl GmbH treffen den Nerv der NPE in Florida Am Stand der Experten können sich die Besucher über unterschiedliche Messverfahren informieren. (Bildquelle: BST ProControl GmbH) Auch in 2015 wird die BST ProControl GmbH vom 23.- 27. März auf der internationalen Kunststoffmesse NPE in Orlando/Florida als Aussteller vertreten sein. Hier stellt das Unternehmen … Weiterlesen »

Okt
02

Confovis präsentiert Waferinspektionssystem auf Semicon Europe

- Automatische Mikroskopie auf Halbleiter-Wafern – Confovis zeigt optisches 3D-Waferinspektionssystem L300 – Semicon Europe vom 8.-10.10.2013 in Dresden Confovis: Waferinspektion Jena/Dresden, 2. Oktober 2013 – Die confovis GmbH präsentiert auf der internationalen Fachmesse für Halbleitertechnologie, “Semicon Europe”, die neueste Generation automatischer Messsysteme. Die Experten für 3D-Oberflächenanalyse zeigen das neue Waferinspektionssystem L300, welches eine einfach einzurichtende … Weiterlesen »

Mrz
30

FRT: Vollständig automatisierte Inspektion von Wafern

Neues Oberflächenmessgerät steigert Durchsatz, Präzision und Qualität Bergisch Gladbach, den 30. März 2011. Komplett integriert in den Produktions-Workflow und vollständig automatisiert – damit punktet das neue Oberflächenmessgerät MicroProf® 200 TTV MHU von Fries Research & Technology (FRT). Der Spezialist für hochauflösende und zerstörungsfreie Oberflächenmessungen bietet damit allen Waferherstellern und der Halbleiterindustrie das Instrument, um die … Weiterlesen »